Рентгенофлуорисцентные толщиномеры

Компания Helmut Fischer уже более 50 лет внедряет и обеспечивает технологии наивысшего класса для точного определения толщины покрытий, для анализа состава материала покрытий и общего тестирования данных материалов. Продукция линии FISCHERSCOPE X-RAY в течение 25 лет является технологическим лидером на рынке. Длительное совершенствование технических показателей, подтвержденное многочисленными патентами, и повышение потребительских характеристик, позволили оборудованию марки FISCHERSCOPE X-RAY всегда опережать конкурентов.

FISCHERSCOPE X-RAY

• Это использование метода энергодисперсионной рентгеновской флуорисценции, соответствующий стандартам ASTM B 568/ISO 3497;
• Это высокоточные измерения толщины покрытий в диапазоне 100 нм до 35 мкм;
• Это анализ состава материалов от Z=11 (Na) до Z=92 (U);
• Это более 20 моделей оборудования – от недорогих стандартных приборов до сложных профессиональных измерительных систем;
• Это простое и надежное программное обеспечение WinFTM;
• Это профессиональный сервис, основанный на знаниях и практическом опыте.

Области применения:

• Измерение проводников и контактных площадок на печатных платах;
• Измерение толщин покрытий на выводах электронных компонентов;
• Утилизация электронных компонентов (RoHS и WEEE);
• Анализ электролитов;
• Анализ элементов солнечных батарей;
• Анализ ювелирных изделий;
• Анализ гальванических и химических покрытий.

Программное обеспечение:

Win FTM - FischerThickness Measurement System for Windows – набор программ самого последнего поколения. Программный софт позволяет  обеспечивать высокую степень гибкости. Он дает возможность производить свободный выбор режимов для определения способа проведения всех измерений.

Сочетая сложнейшие математические алгоритмы и огромный опыт физических исследований, программное обеспечение позволяет проводить оценку даже многослойных покрытий.

Поставляется в следующих вариантах:

WinFTM V.6 Light – позволяет производить анализ и измерять толщину покрытий, состоящих из 1 – 3 слоев или элементов.

WinFTM V.6 Basic – позволяет производить анализ и измерять толщину покрытий, состоящих из 1 – 24 слоев или элементов.

Функции WinFTM® V.6

• Определение толщины покрытий и анализ состава материалов, в одном продукте одновременно
• Свободные измерения и анализ
• Максимальное количество отдельных признаков у образца - 24
• Отдельные слои могут содержать до 24 элементов
• Анализ до 24 слоев в одном составном покрытии
• Повторение отдельных элементов в различных слоях
• Количественный анализ состава сплавов, составные покрытия до 24 элементов
• Анализ «внутренних» покрытий и материалов подложек
• Измерения, не зависящие от материала подложки
• Прямой анализ, составные покрытия до 24 элементов
• Отображение значения качества измерений («measurement quality»)
• Программируемая последовательность измерений («Tasks»)
• Три режима отображения измерений
• Стандартная калибровка
• Идентификация материалов с использованием сравнения спектров
• Библиотека спектров чистых элементов
• Графическое представление точки измерения и XY(Z)навигация
• Установка новых режимов проведения измерений (файл установочных параметров)
• Анализ растворов как отдельная функция при задании режимов проведения измерений
• Вычисление диапазона измерений и величины случайной погрешности измерений

Дополнительные возможности:

Модуль SUPER – самостоятельное создание пользователем новых измерительных задач.

Модуль PDM – управление существующими и вновь создаваемыми пользователем измерительными задачами.