X–RAY XDVM–μ

Когда необходимо провести измерения тончайших поверхностных покрытий на миниатюрных образцах или печатных платах, решить данную задачу может прибор XDVM-μ. Благодаря применению оригинального, подтвержденного патентом, оптического отражателя рентгеновского излучения, данный прибор позволяет генерировать лучи с весьма малым измерительным пятном с высокими показателями интенсивности излучения. Благодаря этому становятся возможными замеры структур, имеющих ширину всего лишь в пару десятков микрон.